应用概述

ATS系列测试诊断平台具备数字信号、模拟信号、总线信号的测试仿真能力，以电子产品功能测试、故障诊断为核心，集成美国Teradyne公司核心测试仪器，可完成基于数字电路的设计评判、测试仿真、故障覆盖率评估、故障字典生成以及对PCB电路的测试诊断，具备实现对大规模集成电路基于LASAR与边界扫描的综合测试能力。该平台采用VXI总线架构，具备高精度、宽范围、高密度、高性能、高可靠性及稳定性、良好的兼容性及可扩展行等特点，可广泛应用于航天、航空、船舶、电子等行业的电子产品研制、试验、装配、生产、使用以及维修保障全寿命周期中芯片级(IC)、板级(SRU)、系统级(LRU或BOX)的综合测试。

应用价值

随着ASIC芯片的广泛应用，器件功能愈加强大，电路设计愈加复杂，电路密度越来越高，器件筛选、功能测试以及复杂电路板故障排查是工业部门面临的新的挑战。ATS测试诊断平台基于LASAR建模仿真原理，结合边界扫描测试技术，解析器件在电路网表中的拓扑关系，实现对被试件的好板仿真和故障注入，采用故障字典诊断方式实现对电路故障的快速排查以及精确定位。ATS采用接口激励测试模式，无需引出测试点，减少了在线测试夹具(针床)的开发费用。